白光干涉位移传感器

白光干涉位移计(3D)是向测量区域以“面”发射光的位移计。几乎不受工件材质及颜色的影响而以面的光进行同轴测量,因此不发生因狭窄位置或凹槽边沿等凹凸形状遮挡反射光的情况。可使用高度信息进行高度差、宽度、角度、体积、粗糙度、平坦度等各种测量。

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产品阵容

WI-5000 系列 - 干涉式同轴 3D 位移测量仪

采用白光干涉原理,可实现高速、高精度的3D测量。支持从高度差/体积测量等的测量到宽度/面积等各种测量。

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